Übersicht
Die Struktur des Forschungsprogramms ist in Abb. 1 dargestellt. Die vertikale Dimension bezeichnet vier Ebenen der physischen Komplexität eingebetteter Mikrosysteme, vom Mikrosensor, über die integrierte Schaltung und das intelligente System bis hin zum System eingebetteter Mikrosysteme, während die horizontale Richtung die vier thematisch kohärenten Forschungsbereiche nennt. Jeder Bereich wird durch drei oder vier Dissertationsprojekte mit entweder informatischem oder mikrosystemtechnischem Schwerpunkt abgedeckt.
Die vier Forschungsbereiche sind:
A Modellierung und Entwurf
B Diagnose, Test und Zuverlässigkeit
C Lokalisierung von Mikrosystemen
D Kommunikation zwischen Mikrosystemen
Ferner erstreckt sich ein themenübergreifendes, interdisziplinäres Postdoktoranden-Projekt
E Cluster eingebetteter Mikrosysteme
über die vier thematischen Forschungsbereiche hinweg. Integraler Bestandteil ist der „mobile Blimp-Cluster“. Er bildet eine experimentelle Plattform, die in einer graduiertenkollegs- überspannenden Kooperation aufgebaut wird und an welcher die entwickelten Konzepte der einzelnen Projekte dem Test der Realität unterzogen und in ihrer Gesamtheit aufeinander abgestimmt und weiterentwickelt werden. Innerhalb jedes Forschungsbereichs, aber auch zwischen ihnen, findet eine starke synergetische Wechselwirkung von mikrosystemtechnischem und informatischem Gedankengut statt.
Abb. 1: Gliederung des Graduiertenkollegs Embedded Microsystems
Wie innerhalb der einzelnen Forschungsbereiche findet auch zwischen diesen eine starke Kopplung statt. So sind die Modellierungs- und Entwurfsarbeiten unabdingbar für die effiziente Entwicklung der lokalisierbaren und der verteilten Mikrosysteme. Analog werden die Arbeiten zu Diagnose und Test sich an den Modellierungs- und Entwurfsmethoden zu orientieren haben und auf diese durch die Extraktion von optimierten Entwurfsregeln rückwirken. Des weiteren muss Diagnose und Test
sicherstellen, dass die Funktionstüchtigkeit der eingebetteten Mikrosysteme in den anwendungsnahen Forschungsbereichen auf den verschiedenen Hierarchieebenen überprüft werden kann.